產品中心/ PRODUCTS CENTER
標題：Asahi-spectra朝日分光光學鍍膜測厚儀
產品概述
| 品牌 | Asahi Spectra/日本 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 是否可提供報關單 | 是 | 貨期 | 備庫銷售，現貨 |
| 可售賣地 | 全國 |
什么是OMD-1000？
這是一種光譜膜厚監測監測器，用于監測單色光氣相沉積過程中基板光強度的變化。 此外，還用于本公司的氣相沉積設備，作為氣相沉積部件制造商，在充滿專業知識的膜厚監測設備中完成。
小葉傳統型號具有濾光片式波長選擇，但新產品采用了我們久經考驗的光譜儀，現在可以選擇任何波長。
薄膜厚度變化的信號從電壓輸出變為與個人計算機兼容的數字輸出，控制機構由個人計算機的命令控制，而不是手動操作。 此外，通過I/F直接控制與個人電腦相連的膜厚儀本體，沒有像其他制造商那樣的控制器，是一個非常緊湊的系統。
集成光譜儀的緊湊型設計
提高抗噪性，實現可靠的膜厚監測（靜電放電試驗耐壓±5kV）
可通過 PC 命令自動控制
控制器內置于接收器本體中，實現高性價比。
它連接到氣相沉積設備上，并監控膜厚。
它可以如右圖所示安裝。
反射式監測
透射式監控
（泛光燈彎曲）
透射式監控
（直接連接到泛光燈）
受光器
泛光燈
電源箱
散裝法蘭
* 包含在反光鏡盒中
反光鏡盒
透射鏡盒
| 型式 | OMD-1000型 |
| 光譜儀類型 | 車爾尼-特納單色 |
| 波長范圍 | 保修范圍：380~900nm工作 范圍：350~1100nm |
| 波長分辨率 | 狹縫 0.5mm：4.2nm [546nm] 狹縫 1.0mm：8.3nm [546nm] |
| 波長精度 | ±1.0納米 |
| 最小波長饋電 | 0.1納米 |
| 外部控制 | RS232C接口 |
| 外部輸出端子 | DC0~2V （滿量程） |
| 采樣間隔 | 100ms以上 |
| 靜電放電試驗耐壓 | ±5 kV（實際 8 kV） |
| 光源 | 12V100W鹵素燈 |
| 光量安定性 | ±0.1%/h 以下 |
| 輸入電壓 | AC100V 50/60赫茲 |
| 允許輸入電壓 | 交流85~132V |
| 視在功率 | 340VA以下 |
| 使用環境 | 溫度 10～35℃ 濕度 20～80％ |
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